使用环境 |
在航空航天以及制导系统中,对O形密封圈进行表面缺陷检测。检测环境可能包括实验室或工业生产现场,使用高分辨率相机采集O形圈图像。 |
使用对象 |
微小型航天密封圈 |
使用目的 |
快速、准确地检测微小型航天密封圈表面的缺陷,飞边、杂质、流痕、凹痕和分模线凸起等,以确保其表面质量满足航空航天和国防工业的要求。 |
输入数据 |
O形密封圈的图像数据,图像大小为320×320像素。 |
输出数据 |
缺陷检测结果,包括缺陷类型、位置和数量信息。 |
硬件配置 |
CPU:Intel(R) Core(TM) i5-6500 3.20GHz,内存:4.00GB,GPU:NVIDIA GTX 2080Ti。操作系统为Ubuntu 16.04,安装了CUDA和cuDNN库。 |
样本获取 |
使用自主设计的O形圈缺陷测检系统采集图像,共采集11679张大小为320×320的O形圈表面缺陷图像,分为训练集9459张、验证集1052张和测试集1168张。 |
测试结果 |
在测试集上,Efficient-FPN Model的平均准确率达到86.1%,检测速度达到110.8frame/s;Transformer-FPN Model的平均准确率达到91.4%, |
执行速度 |
77.3frame/s。 |
资源消耗 |
在上述硬件配置下,CPU平均占用率约70%,GPU平均占用率约80%,内存使用量约2GB。 |
源码类型 |
有Python版本源码 |
文件大小 |
算法程序文件约16K,权重文件约34M。 |
相关备注 |
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