个人卖家: 科技与几何感 创建于:2025-08-24
玉米种子缺陷检测算法
玉米种子缺陷检测算法
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售卖方式详解

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使用环境 使用4通道(RGB + NIR)多光谱相机,镜头距离玉米种子50cm,平行于玉米种子拍摄,采用白光LED环形灯、近红外环形灯和白色背光板增强图像对比度。
使用对象 玉米种子(包括外观无缺陷的玉米种子和有缺陷的玉米种子,缺陷类型如霉变、虫蛀或机械损伤、变色)
使用目的 通过检测玉米种子的缺陷情况,实现对玉米种子质量的快速、准确评估,提高玉米种子质量检测的效率和准确性
输入数据 RGB图像帧、近红外(NIR)图像帧
输出数据 玉米种子质量检测结果(缺陷种子或无缺陷种子)
硬件配置 CPU:Intel(R)Core(TM)i5 - 9400f,主频2.90GHz;GPU:GeForce GTX 1660,显存6G;内存:6G;多光谱相机(4通道,RGB + NIR),分辨率为1296×964,8位每通道;白光LED环形灯、近红外环形灯、白色背光板
样本获取 采集2365粒玉米种子(包含无缺陷种子和有缺陷种子)的RGB和NIR图像,其中1066粒无缺陷种子图像和1042粒有缺陷种子图像用于训练集,257粒既有缺陷种子又有无缺陷种子的图像用于验证集
测试结果 对验证集进行测试,平均准确率为95.63%,平均召回率为95.29%,F1值为95.46%
执行速度 单粒玉米种子检测时间68ms
资源消耗 使用该硬件配置,运行算法时,CPU计算占比平均约60%,内存使用占比50%
源码类型 Python版本源码
文件大小 算法程序文件23K,权重文件22M
相关备注 此算法已通过全面、严格的测试,各项性能指标均达到发布标准,适合在实际应用中广泛使用,为玉米种子质量检测提供准确、稳定的技术支持。
玉米种子缺陷检测算法 玉米种子缺陷检测算法 玉米种子缺陷检测算法
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